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東莞市長安歐準(zhǔn)特精密機械經(jīng)營部

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商品信息

基本參數(shù)

品牌:

BRUKER

所在地:

廣東 東莞市

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供貨總量:

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有效期至:

長期有效

型號:

DEKTAKXT
詳細說明

Bruker DektakXT 探針式表面輪廓儀(臺階儀)


  (一)、概述


  布魯克DektakXT (探針式表面輪廓儀)設(shè)計創(chuàng)新,實現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率,垂直高度重復(fù)性<5?。這一里程碑式的產(chǎn)品源自于Dektak系列占據(jù)業(yè)界領(lǐng)先地位長達四十年的優(yōu)異表面測量技術(shù)。實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量,在微電子、半導(dǎo)體、太陽能、高亮度LED、觸摸屏、醫(yī)療、科學(xué)研究和材料科學(xué)領(lǐng)域大顯身手。


Bruker DektakXT 探針式表面輪廓儀臺階儀


  臺階高度重復(fù)性優(yōu)于5埃(<5 ?)


  · 單拱龍門式設(shè)計實現(xiàn)了突破性的掃描穩(wěn)定性


  · 先進的”智能化電子器件”實現(xiàn)了低噪聲的新標(biāo)桿


  操作簡便,高效易用


  · 直觀化的Vision64TM軟件簡化了用戶界面的操作過程


  · 獨特的傳感器設(shè)計使得在單一平臺上即可實現(xiàn)超微力和較大的力測量


  · 自對準(zhǔn)的探針設(shè)計使用戶可以輕而易舉地更換探針


  探針式輪廓儀的全球


  · 性能,物超所值


  · 完備的零配件為您優(yōu)化或延伸機臺的多種應(yīng)用提供保障


  


  (二)、歷史:技術(shù)創(chuàng)新四十余年


  過去四十年間,世界范圍內(nèi)有上萬臺Dektak系列產(chǎn)品應(yīng)用于各個領(lǐng)域,廣泛用于膜厚、應(yīng)力、表面粗糙度和面形的測量。它們以、可靠、高效等特性廣受贊譽。


  


  (三)、性能:設(shè)計完美、性能


  臺階儀性能優(yōu)劣取決于以下三個方面:測試重復(fù)性、測試速度以及操作難易程度。這些因素決定了實驗數(shù)據(jù)的質(zhì)量和實驗操作的效率。DektakXT采用全新的儀器系統(tǒng)構(gòu)造和優(yōu)化的測量以及數(shù)據(jù)處理軟件來實現(xiàn)可靠、快速和簡單的樣品檢測,達到佳的儀器使用效果。


  優(yōu)異的測試重復(fù)性


  l DektakXT?探針輪廓儀領(lǐng)先的設(shè)計保證了其優(yōu)異的性能,測量重復(fù)性達到5埃以下。


  l 使用單拱龍門式設(shè)計比之前的懸臂梁設(shè)計更堅固持久不易損壞,大大降低了周圍環(huán)境中聲音和震動噪聲對測試信號的影響。


  l 布魯克完善了儀器的智能化電子器件,提高了工作性能的穩(wěn)定性,降低了溫度變化對器件的影響;系統(tǒng)和環(huán)境噪音引起的測量誤差降低到小。


  單拱門設(shè)計和智能化器件聯(lián)用, 獨特的傳感器設(shè)計使得在單一平臺


  降低基座噪音,提高測試性能 可以實現(xiàn)超微力和正常測試


  快捷的測試&數(shù)據(jù)分析速度


  l 采用獨特高速的直接驅(qū)動掃描樣品臺,在不犧牲分辨率和基底噪聲水平的前提下,大大縮短了每次掃描的間隔時間。從而在保證掃描質(zhì)量和重復(fù)性的前提下,將數(shù)據(jù)采集處理速度提高了40%。


  l 采用具有64位數(shù)據(jù)并行處理的軟件Vision64,提高了大范圍3D形貌圖的處理速度。


  l Vision64具備有效直觀的用戶界面,簡化了實驗操作設(shè)置,可以自動完成多掃描模式,使枯燥、繁雜的實驗工作變得快速簡潔。


  采用64位數(shù)據(jù)采集及同步分析軟件Vision64 具備迅速便捷的換針方案,


  提高數(shù)據(jù)采集和分析速度 提供各種規(guī)格針尖


  簡便易行的操作系統(tǒng)


  l 新穎的探針和部件自動對準(zhǔn)裝置,避免了探針損傷。提高操作的簡便性。


  l 提供各種標(biāo)準(zhǔn)探針和特制探針。


  完善的數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng)


  l Vision64 軟件提供了實用簡潔的用戶界面,可視化使用流程,及各種參數(shù)自助設(shè)定等。


  l 各種數(shù)據(jù)分析功能的操作簡便、快捷,使用者可以快速高效地進行分析。


   具備先進的3D形貌圖像掃描和分析模式


   (四)、應(yīng)用


  布魯克探針式表面輪廓儀歷經(jīng)四十載,從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺階高度測量,到更高級的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測試,Dektak臺階儀適用面極廣,為用戶提供準(zhǔn)確性高,重復(fù)性佳的測量結(jié)果。在教育、科研領(lǐng)域和半導(dǎo)體制程控制領(lǐng)域,Dektak廣泛用于膜厚、應(yīng)力、表面粗糙度和面形的測量。


  薄膜監(jiān)控


  l 通過及時監(jiān)測薄膜厚度和刻蝕速率的均勻性以及薄膜應(yīng)力,實現(xiàn)有效工藝控制,可以提高生產(chǎn)良率,為客戶節(jié)省時間和費用。


  l DektakXT易于設(shè)定、測量快捷,通過不同位置的多點自動測量可以晶片的薄膜厚度,測量精度可達納米級別。


  l DektakXT 的測試性能,為工程師提供了準(zhǔn)確的薄膜厚度和應(yīng)力測量,使其可以用來調(diào)節(jié)刻蝕和鍍膜工藝,提高產(chǎn)品的良率。


   混合電路的DektakXT 3D圖像 可以可靠測量厚度小于10nm的薄膜


  表面粗糙度測量


  l DektakXT可以快速測量材料的表面粗糙度,可以獲得材料的質(zhì)量信息:比如晶體生產(chǎn)是否滿足要求,或手術(shù)植入體是否可以通過醫(yī)學(xué)審核允許使用。使用軟件中的數(shù)據(jù)庫功能,設(shè)定 合格/淘汰條件,質(zhì)量人員可以輕松確定


  微機電系統(tǒng)(MEMS)


  l 市場上可以測量敏感材料1mm高垂直臺階的臺階儀,且測試重復(fù)性在埃米級別;


  l 為微機電系統(tǒng)(MEMS)研究提供了可靠的關(guān)鍵尺寸測量手段,確保器件滿足要求;


  l 具有超微力(NLite+)測量功能,可以保證在測量敏感材料時,輕觸材料表面而不破壞樣品表面,得到臺階高度以及表面粗糙度數(shù)據(jù)。


  太陽能電池柵線分析


  l 在太陽能領(lǐng)域,DektakXT作為測量單晶硅、對晶硅電池上主柵、銀線特征尺寸的設(shè)備。


  l 測量柵線的高度、寬度。節(jié)約了貴金屬銀的使用量,同時保證了電池板的佳導(dǎo)電性。Version64的數(shù)據(jù)分析方法和自動操作能力使這一檢驗核實的過程通過特定設(shè)置后自動完成。


  


  (五)、技術(shù)規(guī)格


  測試技術(shù)


  


  探針式表面輪廓測量技術(shù)(接觸模式)


  


  測量范圍


  


  二維表面輪廓測量


  可選擇三維測量以及數(shù)據(jù)分析


  


  樣品觀測


  


  可選擇放大倍數(shù),視場(FOV)范圍:1~4mm


  


  探針傳感器


  


  低慣性量傳感器 (LIS 3)


  


  探針作用力


  


  LIS 3 傳感器中 1~15mg


  


  低作用力模式


  


  N-Lite+ 低作用力 0.03~15mg


  


  探針選項


  


  探針曲率半徑 50nm~25um


  高徑比針尖(HAR)10um×2um 和200um×20um ;也可以采用客戶定制針尖


  


  樣品 X/Y 載物臺


  


  手動 X/Y(4英寸):100mm*100mm,可手動校平


  自動 X/Y(6英寸):150mm*150mm,可手動校平


  


  樣品 R/? 載物臺


  


  手動,360度連續(xù)旋轉(zhuǎn)


  自動,360度連續(xù)旋轉(zhuǎn)


  


  計算機系統(tǒng)


  


  64位多核并行處理器,Windows? 7 系統(tǒng);可選配23英寸平板顯示器


  


  軟件


  


  Version 64 操作分析軟件,應(yīng)力測量軟件,懸臂偏轉(zhuǎn)測試軟件;


  選配:縫合軟件;3D應(yīng)力分析軟件;3D測量軟件


  


  隔振系統(tǒng)


  


  多種隔振方案可供選擇。


  


  掃描長度范圍


  


  55mm (~2英寸)


  


  單詞掃描數(shù)據(jù)采集點


  


  大120,000


  


  大樣品厚度


  


  50mm (2英寸)


  


  大晶片尺寸


  


  200mm (8英寸)


  


  臺階高度重復(fù)性


  


  <5?, 1sigma on 0.1μm step


  


  垂直方向掃描范圍


  


  1mm (0.039英寸.)


  


  垂直方向分辨率


  


  高分辨率可達 1? (在6.55um測量范圍內(nèi)


  


  輸入功率


  


  100 – 240 VAC, 50 – 60Hz


  


  溫度范圍


  


  可以操作溫度為 20 ~ 25°C (68 ~ 77°F)


  


  濕度范圍


  


  ≦80%,無凝結(jié)


  


  系統(tǒng)尺寸和重量


  


  455mm W x 550mm D x 370mm H (17.9in. W x 22.6in. D x 14.5in. H);


  34kg (75lbs.);


  隔離罩:550mm L x 585mm W x 445mm H (21.6in. L x 23in. W x 17.5in. H);


  5.0kg (11lbs.)




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